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Hitachi

日立製作所研究開発グループは、以下のニュースリリースを発行しました。

ニュースリリース概要

発行日

2017年10月10日

タイトル

走査型プローブ顕微鏡において、熱ダメージレスで組成や分子構造を計測する技術を開発

リリース文抜粋


本方式の測定原理

日立は、物質の表面状態を拡大観察する際に用いられる、走査型プローブ顕微鏡向けの新しい測定プローブによる計測技術を開発しました。

本技術は、測定プローブの上方にレーザー光を照射することで、そこから伝播・発生した局在的な光スポットを用いて物質を計測する技術です。これにより、測定時に物質近くにある測定プローブ先端へのレーザー光の直接照射を回避できるため、物質に熱ダメージを与えることなく計測が可能となりました。

掲載先

このニュースは、以下の新聞、Webサイトなどに掲載されました。

2017年10月9日
2017年10月11日