2018年10月25日
株式会社日立製作所

  株式会社日立製作所(以下、日立)は、このたび、公益社団法人 発明協会が主催する平成30年度関東地方発明表彰において、「ITシステム分析基盤(特許第5744362号)」について特許庁長官賞を受賞しました。表彰式は11月8日に浦安ブライトンホテル東京ベイで行われる予定です。

  地方発明表彰は、大正10年に創設され、全国を8地方(北海道・東北・関東・中部・近畿・中国・四国・九州)に分けて実施されており、優れた発明、考案または意匠を生み出した技術者・研究者を表彰するものです。

  今回、日立が受賞した発明は、ITシステムにおける障害の要因特定に必要な情報をわかりやすく表示することで、障害原因の調査・分析を容易とし、障害復旧までの時間を短縮する発明です。
  近年、ITシステムの運用コスト削減などを目的として、クラウドに代表される仮想化技術の利用が拡大しています。仮想化技術を利用した大規模な環境の運用では、複雑なシステム構成のために、障害調査が長期化したり、影響範囲が拡大したりしやすいといった課題があります。
  従来は、障害が発生したエレメント*1を含むシステム内のすべてのエレメントを一つのシステム監視画面に表示し、分析をおこなっていました。しかし、仮想化技術の利用、システムの大規模化により、システムを構成するエレメントの数が増加し、一つの監視画面ですべてのエレメントや分析に用いる情報を表示して調査及び分析を行うことは、現実的に困難になってきました。日立は、こうした課題を解決し、ITシステムの障害対応の迅速化、容易化を実現するために、本発明を考案しました。

*1

アプリケーション、サーバ、スイッチ、ストレージなどのITシステム構成要素

  本特許「ITシステム分析基盤(特許第5744362号)」は、エレメントの一覧を表示した画面から障害の発生したエレメントを選択し、障害発生エレメントとそれに関連するエレメントとを、アプリケーション、サーバ、スイッチ、ストレージなどの種別で区分して、エレメント間の関連を表示するトポロジー画面へ遷移することを特長とします。
  これにより、分析に必要なエレメントだけが抽出され、障害要因の特定に必要な情報をわかりやすく表示できるため、視認性が向上し、システム管理者が障害原因の調査、分析及び障害対処方法の判断を容易に行え、障害復旧までの時間が短縮可能となります。
  本発明は、日立の統合システム運用管理JP1のIT運用分析製品である「JP1/Operations Analytics」に搭載し、製品化しています。

  日立は、今後も、ITプラットフォーム分野に関する技術開発を通じて、科学技術および産業の発展に貢献していきます。

IT運用分析製品「JP1/Operations Analytics」における 本発明の適用イメージ

関連情報

商標注記

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本件に関する問合せ先

株式会社日立製作所 サービス&プラットフォームビジネスユニット ITプロダクツ統括本部
開発基盤本部 知財戦略部 [担当:渡邊]
〒250-0872 神奈川県小田原市中里322番地2号
TEL : 0465-49-1111(代表)

以上