
自社ファブの特徴を生かした開発〜生産一貫対応による、安定した製品・品質をご提供いたします。
| Technology | Device | fT | Voltage | Wafer | Status |
|---|---|---|---|---|---|
| 0.35µm | Si BiCMOS | 20GHz | 3.3V | SOI | MP |
| 13GHz | 7V | ||||
| 0.25µm | SiGe BiCMOS | 15GHz | 10V | SOI | MP |
| 65GHz | 3.5V | ||||
| 90GHz | 2.5V | ||||
| 137GHz | 2.0V | ||||
| 0.18µm | SiGe BiCMOS | 137GHz | 2.0V | Bulk | MP |
| 210GHz | 1.5V | ||||
| 300GHz | T.B.D | UD |
SOI : Silicon On Insulator , MP : Mass Production , UD : Under Development
| 製品例 | 機能・用途など | 特徴 | デバイス |
|---|---|---|---|
| Mux IC (39.8Gbps - 43Gbps) Dmux IC (39.8Gbps - 43Gbps) |
2.5Gbps x 16ch ⇔ 40Gbps | オンチップVCO | 15GHz 〜210GHz 低雑音 SiGe BiCMOS |
| 1チップ Mux/Dmux IC (10Gbps) |
640Mbps x 16ch ⇔ 10Gbps | 1チップ集積 | |
| トランスインピーダンスアンプ | 光通信機器向け受信アンプ | >9.5GHz | |
| 高速ゲインアンプ | 光通信機器向け受信アンプ | 9GHz 30dB 〜 -6dB |
|
| 高速ピンエレドライバーアンプ | 半導体計測器向け | 低雑音 高電圧 |
|
| 高精度DAC | 基準電圧発生、供給 | 多チャネル | 低雑音BiCMOS |
| センサーIFアンプ(放射線検出) | 検査装置向け | 低雑音 | |
| センサーIFアンプ(磁気検出) | ストレージ機器向け | 低雑音 |


1.カスタムIC開発フロー
以下の概略フローをご用意していますが、
お客さまのご要望に応じたサービスを
ご提供いたします。
2.解析サポート例
お客さまのニーズに合わせたきめ細かい
サポートを提供いたします。
@ LSIパッケージ解析
A LSIデバイス解析
・微細配線故障箇所特定
・微小部・極薄膜構造評価
・表面化学結合状態評価
B FIB (*) 配線修正
C LSI局所研磨

(*)FIB:Focused Ion Beam
(集束イオンビーム)
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